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在太赫茲時域光譜系統（THz-TDS）中，電光采樣和光電導天線是最為常見的兩種寬帶太赫茲波探測技術。其中，電光采樣技術基于電光晶體的Pockels效應來檢測THz信號的幅度。當探測光脈沖（<100 fs）和THz光束共線、同時入射電光晶體時，在THz電場的線性調制作用下，電光晶體產生雙折射現象（Pockels效應）。當探測光脈沖隨THz波在GaAs晶體中傳播，并透過1/4波片（QWP）后，其偏振態橢圓率正比于THz電場強度。當沒有THz電場存在時，線偏振探測光經過QWP后轉化為圓偏振光。經過渥拉斯頓棱鏡（WP）后，S偏振和P偏振光被分離，兩個平衡探測器（PD）將兩者光強相減，其輸出電流差值（IBD）為零；當THz存在時，IBD隨THz電場強度而比例增大。通過探測IBD即可間接的測量THz波的電場幅度。
u “自平衡”原理：理想情況下，當沒有THz信號時，圓偏振的探測光經過1/4波片和渥拉斯頓棱鏡偏振分光、入射至探測器后，Is=Ip，即IBD=0。但是，實際中的探測光經過光路入射至電光晶體時，通常并不是嚴格的圓偏振光，并且由于電光晶體的殘留雙折射等因素，會導致沒有THz信號時，IBD≠0。為了解決該問題，我們采用MCU電路實時監測IBD，當IBD≠0時，驅動步進電機旋轉1/4波片，使IBD自動逼近為0。
EO采樣技術探測THz信號幅度的原理
（1）探測光入射口周圍有兩條垂直/水平參考線，表示入射光軸的高度和左右位置；
（2）探測光的光軸應當與圖中所標識的外殼邊沿平行；
（3）產品出廠時，在Laser Input孔插有圖 3所示的輔助工裝，用于輔助精確定位入射探測光的光軸位置。產品正常使用時，應當取出該工裝。
博太赫茲信息科技（武漢）有限公司
公司地址：楊浦區貴陽路398號文通國際16層
武漢工廠：東湖高新區光谷科技港1幢A座7層
聯系電話：
技術支持：info@b-THz.com
公司網址：m.baiji.net.cn
微信公眾號：博太赫茲
| 圖片 | 產品名稱 | 產品型號 | 文檔 | 產品規格 | 產品單價 | 發貨時間 | 訂購數量 | +1 |
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太赫茲自平衡電光探測模塊 |
太赫茲自平衡電光探測模 |  |
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| 圖片 | 產品名稱 | 產品型號 | 文檔 | 產品規格 | 產品單價 | 發貨時間 | 訂購數量 | +1 |
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便攜式太赫茲光譜儀 — 一體機 |
BT-PTS | |
光譜范圍0.1-3THz，光譜分辨率11GHz，動態范圍70dB，速率速率2ms/波形，產品體積260 mm × 220 mm × 132 mm，產品重量5kg，內置鋰電池工作時間2.5小時。
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光纖耦合臺式太赫茲光譜儀 |
BT-FTS3500 | |
1.光譜寬度：0.1 – 3.0 THz
2.光譜分辨率：2.5 GHz
3.成像分辨率：≤0.5 mm（水平方向）、~10 μm（深度方向）
4.動態范圍：≥ 75 dB
5.光譜采樣速率：16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps
6.延時掃描范圍：400 ps
7.測量方式：支持透射、反射、ATR、偏振測量；支持自動角度掃描、掃描成像（XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等）
8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口
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