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全光纖耦合臺式太赫茲時域光譜儀——超寬帶、實時、探頭可靈活移動，適用于科研實驗室精密時域光譜分析和成像

THz-TDS技術
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太赫茲時域光譜儀（Terahertz Time-Domain Spectrometer，簡稱THz-TDS）是一種用于研究太赫茲波段（THz，即10^12赫茲）電磁波的儀器。它通過發射和探測太赫茲波的電磁脈沖，能夠實現高分辨率的時域光譜分析，從而獲取樣品的吸收、折射、透射和散射等信息。太赫茲波段位于微波和紅外光之間，因此具有一些獨特的性質，使得太赫茲時域光譜儀在各種科研應用領域中具有重要價值。

以下是太赫茲時域光譜儀的一些主要特點和科研應用領域：

特點：

非破壞性測試：太赫茲波不會損害或破壞樣品，因此可以用于對生物組織、藥物、食品等敏感材料的研究。
高分辨率： THz-TDS可以實現高分辨率的時域光譜分析，可以檢測樣品中微小的變化。
成像能力：它可以用于成像，如太赫茲成像技術，用于檢測隱形武器、病變組織等。
化學信息：太赫茲波段對于材料的分子振動和晶格振動提供了重要信息，因此可用于分析化學成分。

科研應用領域：

材料科學： THz-TDS被廣泛用于研究材料的電子結構、晶體結構、電磁性質等。這在新材料的開發和設計中具有重要意義。
生物醫學：太赫茲時域光譜儀可用于生物醫學研究，包括腫瘤檢測、皮膚疾病診斷以及藥物交付系統的研究。
食品和藥品檢測：該技術可用于檢測食品和藥品中的成分、質量控制以及真偽鑒別。
安全檢測：太赫茲時域光譜儀可以用于安全領域，如檢測爆炸物、毒品、武器等。
通信技術： THz波段還具有潛力用于高速通信，因為它的頻率高于微波，但穿透力強于光學波段。

總之，太赫茲時域光譜儀在多個科研領域中發揮著關鍵作用，為研究和應用太赫茲波段的特性提供了有力工具。

產品簡介

本產品超寬帶、實時、探頭可靈活移動，適用于科研實驗室光譜分析和成像，可提供透射式、反射式、ATR和成像（XY掃描、圓柱掃描）、偏振控制等定制化模塊。

產品特點

全光纖耦合式光電導探針設計（國內首家）：測量方式靈活多樣、支持快捷切換x/y/z偏振測試
實時測量：高達16波形/秒，>60dB@1s
延時范圍寬：高達400 ps延時掃描范圍，光譜分辨率低至2.5 GHz
探測模式：支持遠場發射+遠場探測、遠場發射+近場探測、近場激發+近場探測（國內獨家）
掃描方式：支持探針三維掃描、樣品三維掃描、探頭角度掃描

產品用途

科學研究（太赫茲波導、超材料等研究）
物質成分光譜分析
無損檢測層析成像

典型性能

博太獲獎海報.jpg

關于“金燧獎”

科研儀器作為科學研究的"基石"和核心工具，它不僅關系到科學研究的進程速度，更是影響了科學技術的整體進步。在全球科技競爭日益激烈的背景下，我國科研儀器國產化率嚴重不足，高端科研設備的嚴重依賴進口，形成了嚴重的"卡脖子"現象，這不僅制約了我國科技創新發展的腳步，更對我國的科技安全構成了威脅。面臨諸多困境，近年來，國家出臺了一系列政策措施，多措并舉加大對國產儀器的扶持力度，提升自主創新能力，盡快突破關鍵核心技術。

中國光學工程學會積極響應國家號召，在多位院士的倡議和領導下，勇擔歷史使命，自2022年起，啟動"金燧獎"中國光電儀器品牌榜評選活動，圍繞新一代信息技術、與醫療器械、航空航天、新能源、新材料、數控機場與機器人、海洋裝備、先進軌道交通、綠色環保、新能源汽車等國家重點產業領域，推選出我國自主研發、制造、生產的高端光電儀器，為我國自主研發的科學儀器搶占科技戰略制高點、樹立民族品牌自信、展現自主核心競爭力、開拓國內外應用市場創造機遇。

博太赫茲信息科技（武漢）有限公司榮獲第三屆“金燧獎”金獎，成為太赫茲行業唯一獲獎的企業，這標志著該公司在太赫茲技術領域的研究與應用取得了顯著成就，得到了行業的高度認可。博太赫茲憑借其強大的技術研發實力、創新能力和產品性能，在眾多參評企業中脫穎而出，展現了其在太赫茲時域光譜成像系統及組件解決方案方面的領先地位。

這一成就不僅是對博太赫茲過去幾年來不懈努力和持續創新的肯定，也為公司未來的發展奠定了堅實的基礎。通過不斷的技術革新和產品優化，博太赫茲將繼續引領太赫茲技術的應用和發展，為客戶提供更加先進、可靠的產品和服務。

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光纖耦合臺式太赫茲時域光譜儀

博太赫茲信息科技（武漢）有限公司

公司地址：楊浦區貴陽路398號文通國際16層
武漢工廠：東湖高新區光谷科技港1幢A座7層

聯系電話：

技術支持：info@b-THz.com

公司網址：m.baiji.net.cn

微信公眾號：博太赫茲

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產品名稱	產品型號	產品規格	產品單價	發貨時間	訂購數量
光纖耦合臺式太赫茲光譜儀	BT-FTS3500	1.光譜寬度：0.1 – 3.0 THz 2.光譜分辨率：2.5 GHz 3.成像分辨率：≤0.5 mm（水平方向）、~10 μm（深度方向） 4.動態范圍：≥ 75 dB 5.光譜采樣速率：16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍：400 ps 7.測量方式：支持透射、反射、ATR、偏振測量；支持自動角度掃描、掃描成像（XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等） 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口 1.光譜寬度：0.1 – 3.0 THz 2.光譜分辨率：2.5 GHz 3.成像分辨率：≤0.5 mm（水平方向）、~10 μm（深度方向） 4.動態范圍：≥ 75 dB 5.光譜采樣速率：16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍：400 ps 7.測量方式：支持透射、反射、ATR、偏振測量；支持自動角度掃描、掃描成像（XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等） 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口	電話確認	電話確認	確定
光纖耦合臺式太赫茲光譜儀—高速率	BT-FTS3500-H	1.光譜寬度：0.1 – 3.0 THz 2.光譜分辨率：11GHz 3.成像分辨率：≤0.5 mm（水平方向）、~10 μm（深度方向） 4.動態范圍：≥ 70 dB 5.光譜采樣速率：500Hz@110ps 6.延時掃描范圍：110 ps 7.測量方式：支持透射、反射、ATR、偏振測量；支持自動角度掃描、掃描成像（XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等） 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口 1.光譜寬度：0.1 – 3.0 THz 2.光譜分辨率：11GHz 3.成像分辨率：≤0.5 mm（水平方向）、~10 μm（深度方向） 4.動態范圍：≥ 70 dB 5.光譜采樣速率：500Hz@110ps 6.延時掃描范圍：110 ps 7.測量方式：支持透射、反射、ATR、偏振測量；支持自動角度掃描、掃描成像（XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等） 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口	電話確認	電話確認	確定
光纖耦合臺式太赫茲光譜儀—寬譜寬	BT-FTS5500	1.光譜寬度：0.1 – 5.0 THz 2.光譜分辨率：2.5 GHz 3.成像分辨率：≤0.5 mm（水平方向）、~10 μm（深度方向） 4.動態范圍：≥ 90 dB 5.光譜采樣速率：16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍：400 ps（標準）； 800/1600/3200 ps（選配） 7.測量方式：支持透射、反射、ATR、偏振測量；支持自動角度掃描、掃描成像（XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等） 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口 1.光譜寬度：0.1 – 5.0 THz 2.光譜分辨率：2.5 GHz 3.成像分辨率：≤0.5 mm（水平方向）、~10 μm（深度方向） 4.動態范圍：≥ 90 dB 5.光譜采樣速率：16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍：400 ps（標準）； 800/1600/3200 ps（選配） 7.測量方式：支持透射、反射、ATR、偏振測量；支持自動角度掃描、掃描成像（XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等） 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口	電話確認	電話確認	確定
光纖耦合臺式太赫茲光譜儀	BT-FTS5500-H	1.光譜寬度：0.1 – 5.0 THz 2.光譜分辨率：≤ 1.2 GHz 3.成像分辨率：≤0.5 mm（水平方向）、~10 μm（深度方向） 4.動態范圍：≥ 80 dB 5.光譜采樣速率：50Hz@16ps、33Hz@53ps、20Hz@133ps、14Hz@267ps、9Hz@1067ps、3.6Hz@1600ps 6.延時掃描范圍：400 ps（標準）； 800/1600/3200 ps（選配） 7.測量方式：支持透射、反射、ATR、偏振測量；支持自動角度掃描、掃描成像（XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等） 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口 1.光譜寬度：0.1 – 5.0 THz 2.光譜分辨率：≤ 1.2 GHz 3.成像分辨率：≤0.5 mm（水平方向）、~10 μm（深度方向） 4.動態范圍：≥ 80 dB 5.光譜采樣速率：50Hz@16ps、33Hz@53ps、20Hz@133ps、14Hz@267ps、9Hz@1067ps、3.6Hz@1600ps 6.延時掃描范圍：400 ps（標準）； 800/1600/3200 ps（選配） 7.測量方式：支持透射、反射、ATR、偏振測量；支持自動角度掃描、掃描成像（XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等） 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口	電話確認	電話確認	確定
光纖耦合臺式太赫茲光譜儀	BT-FTNS2000	1.光譜寬度：0.1 – 2 THz 2.光譜分辨率：2.5 GHz 3.成像分辨率：≤20 μm（近場成像） 4.動態范圍：≥ 50 dB 5.光譜采樣速率：16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍：400 ps（標準）； 800/1600/3200 ps（選配） 7.測量方式：基于光電導微探針的太赫茲近場成像 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口 1.光譜寬度：0.1 – 2 THz 2.光譜分辨率：2.5 GHz 3.成像分辨率：≤20 μm（近場成像） 4.動態范圍：≥ 50 dB 5.光譜采樣速率：16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍：400 ps（標準）； 800/1600/3200 ps（選配） 7.測量方式：基于光電導微探針的太赫茲近場成像 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口	電話確認	電話確認	確定
光纖耦合臺式太赫茲光譜儀	BT-FTNS2000-H	1.光譜寬度：0.1 – 2 THz 2.光譜分辨率：≤ 1.2 GHz 3.成像分辨率：≤20 μm（近場成像） 4.動態范圍：≥ 50 dB 5.光譜采樣速率：50Hz@16ps、33Hz@53ps、20Hz@133ps、14Hz@267ps、9Hz@1067ps、3.6Hz@1600ps 6.延時掃描范圍：400 ps（標準）； 800/1600/3200 ps（選配） 7.測量方式：基于光電導微探針的太赫茲近場成像 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口 1.光譜寬度：0.1 – 2 THz 2.光譜分辨率：≤ 1.2 GHz 3.成像分辨率：≤20 μm（近場成像） 4.動態范圍：≥ 50 dB 5.光譜采樣速率：50Hz@16ps、33Hz@53ps、20Hz@133ps、14Hz@267ps、9Hz@1067ps、3.6Hz@1600ps 6.延時掃描范圍：400 ps（標準）； 800/1600/3200 ps（選配） 7.測量方式：基于光電導微探針的太赫茲近場成像 8.配套軟件功能(BT-TSA)：對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理；FFT變換生成頻域波形、吸收光譜；支持對吸收光譜進行基線濾波；支持光譜數據庫和光譜自動識別功能；支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量；支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能（選配）；提供軟件二次開發接口	電話確認	電話確認	確定

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相關產品訂購

產品名稱	產品型號	產品規格	產品單價	發貨時間	訂購數量
6軸多功能成像掃描臺	BT-TDS-IMG-MF	適用場景：支持各種太赫茲成像測量模式，功能最為齊全，適應于實驗室環境掃描方式：樣品三維掃描、太赫茲探頭三維掃描；成像模式：遠場、近場；光路形式：透射式、夾角反射式、垂直正入射反射式適用場景：支持各種太赫茲成像測量模式，功能最為齊全，適應于實驗室環境掃描方式：樣品三維掃描、太赫茲探頭三維掃描；成像模式：遠場、近場；光路形式：透射式、夾角反射式、垂直正入射反射式	電話確認	電話確認	確定
電控角度掃描臺	HEAD-360-Auto	適用場景：電控角度可調的透射式或反射式光譜測量；自動角度掃描譜測量角度可調諧范圍：20 – 340°；角度分辨率：0.1°；支持加裝起偏器；支持偏振態旋轉適用場景：電控角度可調的透射式或反射式光譜測量；自動角度掃描譜測量角度可調諧范圍：20 – 340°；角度分辨率：0.1°；支持加裝起偏器；支持偏振態旋轉	電話確認	電話確認	確定
角度可調透射&反射測量探頭+旋轉掃描臺	HEAD-VR-180-IMG-R-200	適用場景：圓柱外形樣品的反射式掃描成像長度掃描范圍：200mm 樣品直徑：100mm 適用場景：圓柱外形樣品的反射式掃描成像長度掃描范圍：200mm 樣品直徑：100mm	電話確認	電話確認	確定
角度可調透射&反射測量探頭+XY掃描臺	HEAD-VR-180-IMG-XY-150	適用場景：平面狀外形樣品的透射式或反射式掃描成像 XY掃描范圍：150mm×150mm Z調節范圍：25mm 步進精度：10um 成像分辨率：0.5mm 支持偏振態旋轉適用場景：平面狀外形樣品的透射式或反射式掃描成像 XY掃描范圍：150mm×150mm Z調節范圍：25mm 步進精度：10um 成像分辨率：0.5mm 支持偏振態旋轉	電話確認	電話確認	確定
XY成像掃描臺	IMG-T-XY100	適用場景：適用于對平面樣品透射式掃描成像 XY方向支持電控掃描，行程100 mm； Z向支持手動調節樣品高度，行程25 mm 適用場景：適用于對平面樣品透射式掃描成像 XY方向支持電控掃描，行程100 mm； Z向支持手動調節樣品高度，行程25 mm	電話確認	電話確認	確定
THz-CT成像掃描臺	BT-TDS-IMG-CT	適用場景：用于對目標進行太赫茲三維CT成像掃描模式：X/Z軸步進掃描+樣品旋轉掃描適用場景：用于對目標進行太赫茲三維CT成像掃描模式：X/Z軸步進掃描+樣品旋轉掃描	電話確認	電話確認	確定
透射式測量探頭	HEAR-2OPM （標配）	適用場景：高精度樣品光譜測量主要參數：支持平行或聚焦方式切換；支持加裝偏振片；支持插入ATR模塊適用場景：高精度樣品光譜測量主要參數：支持平行或聚焦方式切換；支持加裝偏振片；支持插入ATR模塊	電話確認	電話確認	確定
開放式垂直正入射反射式測量探頭	HEAD-NR-Lab	適用場景：反射式光譜測量或成像。具有最佳成像分辨率。開放式設計，適合科研用戶主要參數：成像分辨率：0.5mm；工作方式：垂直正入射反射式；支持快速切換透射式和正入射反射式適用場景：反射式光譜測量或成像。具有最佳成像分辨率。開放式設計，適合科研用戶主要參數：成像分辨率：0.5mm；工作方式：垂直正入射反射式；支持快速切換透射式和正入射反射式	電話確認	電話確認	確定
集成反射式測量探頭	BT-TH-01	適配主機：BT-FTS、BT-PTS-FC或BT-TCU系列光路形式：夾角反射式（8°）工作距離：40 mm ~ 100 mm 光斑直徑：3~6 mm 探頭尺寸：83.2 mm × 91 mm × 100 mm（不含手柄部分）探頭重量：0.85 kg 測量操作方式：上位機軟件操作操作顯示屏參數：2.4寸觸摸顯示屏，240 × 320 像素；支持同時顯示≥3層測量；測量參數自定義設置；支持觸屏方式輸入測量參數（包括：材料折射率、計算公式、結果標識等）防護等級：IP5X 適配主機：BT-FTS、BT-PTS-FC或BT-TCU系列光路形式：夾角反射式（8°）工作距離：40 mm ~ 100 mm 光斑直徑：3~6 mm 探頭尺寸：83.2 mm × 91 mm × 100 mm（不含手柄部分）探頭重量：0.85 kg 測量操作方式：上位機軟件操作操作顯示屏參數：2.4寸觸摸顯示屏，240 × 320 像素；支持同時顯示≥3層測量；測量參數自定義設置；支持觸屏方式輸入測量參數（包括：材料折射率、計算公式、結果標識等）防護等級：IP5X	電話確認	電話確認	確定
垂直正入射反射式測量探頭	BT-TH-02	適配主機：BT-FTS、BT-PTS-FC或BT-TCU系列光路形式：垂直正入射反射式工作距離：25 mm（默認）；另可選75/100mm等規格光斑直徑：1.5~3 mm 探頭尺寸：55 mm × 82.5 mm × 254 mm（含手柄部分）、35 mm × 70 mm × 130 mm（手柄，可拆裝）探頭重量：0.8 kg 測量操作方式：支持上位機軟件和手柄扳機操作操作顯示屏參數：2.4寸觸摸顯示屏，240 × 320 像素；支持同時顯示≥3層測量；測量參數自定義設置；支持觸屏方式輸入測量參數（包括：材料折射率、計算公式、結果標識等）防護等級：IP5X 適配主機：BT-FTS、BT-PTS-FC或BT-TCU系列光路形式：垂直正入射反射式工作距離：25 mm（默認）；另可選75/100mm等規格光斑直徑：1.5~3 mm 探頭尺寸：55 mm × 82.5 mm × 254 mm（含手柄部分）、35 mm × 70 mm × 130 mm（手柄，可拆裝）探頭重量：0.8 kg 測量操作方式：支持上位機軟件和手柄扳機操作操作顯示屏參數：2.4寸觸摸顯示屏，240 × 320 像素；支持同時顯示≥3層測量；測量參數自定義設置；支持觸屏方式輸入測量參數（包括：材料折射率、計算公式、結果標識等）防護等級：IP5X	電話確認	電話確認	確定
單次ATR模塊	ATR-HiSi-45	適用場景：單次ATR反射測量模塊，適用于對液體樣品進行ATR模式測量主要參數：ATR棱鏡采用等腰直角形高阻硅；樣品測試窗口直徑5 mm 適用場景：單次ATR反射測量模塊，適用于對液體樣品進行ATR模式測量主要參數：ATR棱鏡采用等腰直角形高阻硅；樣品測試窗口直徑5 mm	電話確認	電話確認	確定
多次ATR模塊	ATR-HiSi-45x3	適用場景：三次ATR反射測量模塊，與單次ATR相比液體檢測靈敏度提升三倍主要參數：ATR棱鏡采用特殊七面體設計，具有三個ATR傳感表面適用場景：三次ATR反射測量模塊，與單次ATR相比液體檢測靈敏度提升三倍主要參數：ATR棱鏡采用特殊七面體設計，具有三個ATR傳感表面	電話確認	電話確認	確定